日本電産リードはNidec SVプローブ社（Nidec SV Probe Pte.Ltd.）と共に、半導体プロセスで必要な検査技術を提供し、多様化・高度化したお客様のニーズにお応え致します。今年も広く皆様にそれら製品のご案内を申し上げるべく、「SEMICON JAPAN 2022」に出展する運びになりましたので、下記の通りご案内申し上げます。
新製品の「IGBT/SiC モジュール 絶縁/静特性/動特性検査」に加え「ウェハプローバー電気検査」、「SV TCL社の各種プローブカード」、「半導体ウェハバンプ光学検査システム」を中心とした、最先端の検査ソリューションをご要望に合わせてご提案致しますので、是非ブースへお越しください。
出展概要
■展示予定内容（プローブカードのみ実機展示）
・IGBT/SiC モジュール 絶縁/静特性/動特性検査装置「NATS-1000」
・マルチファンクションテスター 「R-700シリーズ」
・光学式外観検査装置 「RWiシリーズ」
・高精度治具 「Φ15μm治具」
・電気検査システム「GATSシリーズ」
・プローブカード
